Minőségbiztosítás a mikroelektronikában

A VIK Wikiből
A lap korábbi változatát látod, amilyen Hermann László (vitalap | szerkesztései) 2015. május 6., 18:09-kor történt szerkesztése után volt.
Minőségbiztosítás
a mikroelektronikában
Tárgykód
VIETM109
Általános infók
Szak
villany MSc
Kredit
4
Ajánlott félév
1
Tanszék
ETT
Követelmények
NagyZH
2 db
Elérhetőségek

Követelmények

2015 tavasz

2 db ZH, egyenként 20-20 ponttal. Min. 9 pontot el kell érni ZH-ként. Ezek alapján az osztályozás:

  • 0-17 elégtelen (1)
  • 18-23 elégséges (2)
  • 24-28 közepes (3)
  • 29-33 jó (4)
  • 34-40 jeles (5)

Vélemények

A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.

2014 tavaszán ez már biztosan nem volt aktuális, az első (elvileg könnyebbik) Zh-n ~70% bukott. Ha alapból nem érdekel a téma inkább ne vedd fel, mert nem úgy kérdezik már vissza az anyagot, ahogy arra számítana az ember.

Segédanyagok

ZH

2015. március 26. 1. ZH

  1. a) Ismertesse a matematikai statisztika alaptételét! b) Mi a korrelációs együttható + kapcsolata a valószínűségi változókkal?
  2. A mintavétel folyamata. (Illés Balázs mondta ZH-n, hogy nem elég csak a lépéseket felsorolni, hanem mindegyikhez írni kell néhány dolgot)
  3. Konfidenciás feladat
  4. AQL-es feladat: Egy cég 500 db motorvezérlő elektronikát gyárt naponta. a) AQL szintet kiválasztani indoklással (több jó is lehet)! b) A legutóbbi 10 tételben nem volt hiba. Ez + AQL szint alapján kulcsjel választása. c) Kulcsjel alapján n és k meghatározása. d) Hogyan lehetne csökkenteni az előzőekben meghatározott mintavételi mintaszámot(n-t)?
  5. Mi a gyorsított vizsgálat? Milyen gyorsítási paraméterek vannak? Sorolja fel az élettartam modelleket!

2015. május 5. 2. ZH

  1. Félvezetők fajlagos ellenállása illetve lemezszerű rétegek négyzetes ellenállása homogén ill. inhomogén adalékolás esetén, Gummel szám
  2. Mi a tesztábrák definíciója? Milyen tesztábrák szükségesek a fotoreziszt és marási technológia felbontásának meghatározásához?
  3. Mért C-V görbék kiértékeléséből meghatározható paraméterek, a számítások alapelvei (nem a képlet a lényeg, hanem a fizikai háttér ismertetés)
  4. Elektronsugaras technikák félvezetők vizsgálatára

2012. 1. zh

  • TQM
  • SPC
  • két darab szórásos, konfidenciás feladat
  • AOI

2012. 2. zh

  • Si egykristály hibáinak vizsgálata
  • négytűs mérés
  • IC hibamérés
  • mit lehet mérni C-V módszerrel
  • gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
  • C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség

2013. 2. zh

2013.05.13.


1. félév (tavasz)
2. félév (ősz)
Egyéb
Főspecializációk