„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
A VIK Wikiből
Nincs szerkesztési összefoglaló |
Nincs szerkesztési összefoglaló |
||
1. sor: | 1. sor: | ||
{{Tantárgy | {{Tantárgy | ||
| név = Minőségbiztosítás<br>a mikroelektronikában | | név = Minőségbiztosítás<br>a mikroelektronikában | ||
| tárgykód = | | tárgykód = VIETMA05 | ||
| szak = villany MSc | | szak = villany MSc | ||
| kredit = 4 | | kredit = 4 |
A lap 2016. április 12., 19:30-kori változata
Követelmények
2015 tavasz
2 db ZH, egyenként 20-20 ponttal. Min. 9 pontot el kell érni ZH-ként. Ezek alapján az osztályozás:
- 0-17 elégtelen (1)
- 18-23 elégséges (2)
- 24-28 közepes (3)
- 29-33 jó (4)
- 34-40 jeles (5)
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
2014 tavaszán ez már biztosan nem volt aktuális, az első (elvileg könnyebbik) Zh-n ~70% bukott. Ha alapból nem érdekel a téma inkább ne vedd fel, mert nem úgy kérdezik már vissza az anyagot, ahogy arra számítana az ember.
Segédanyagok
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget.
ZH
2015. március 26. 1. ZH
- a) Ismertesse a matematikai statisztika alaptételét! b) Mi a korrelációs együttható + kapcsolata a valószínűségi változókkal?
- A mintavétel folyamata. (Illés Balázs mondta ZH-n, hogy nem elég csak a lépéseket felsorolni, hanem mindegyikhez írni kell néhány dolgot)
- Konfidenciás feladat
- AQL-es feladat: Egy cég 500 db motorvezérlő elektronikát gyárt naponta. a) AQL szintet kiválasztani indoklással (több jó is lehet)! b) A legutóbbi 10 tételben nem volt hiba. Ez + AQL szint alapján kulcsjel választása. c) Kulcsjel alapján n és k meghatározása. d) Hogyan lehetne csökkenteni az előzőekben meghatározott mintavételi mintaszámot(n-t)?
- Mi a gyorsított vizsgálat? Milyen gyorsítási paraméterek vannak? Sorolja fel az élettartam modelleket!
2015. május 5. 2. ZH
- Félvezetők fajlagos ellenállása illetve lemezszerű rétegek négyzetes ellenállása homogén ill. inhomogén adalékolás esetén, Gummel szám
- Mi a tesztábrák definíciója? Milyen tesztábrák szükségesek a fotoreziszt és marási technológia felbontásának meghatározásához?
- Mért C-V görbék kiértékeléséből meghatározható paraméterek, a számítások alapelvei (nem a képlet a lényeg, hanem a fizikai háttér ismertetés)
- Elektronsugaras technikák félvezetők vizsgálatára
2012. 1. zh
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2012. 2. zh
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
- C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség
2013. 2. zh
1. félév (tavasz) | |
---|---|
2. félév (ősz) | |
Egyéb | |
Főspecializációk |