„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés

@@ 1. sor: / 1. sor: @@
-{{GlobalTemplate|Villanyszak|MSCMinBiztME}}
 ==Vélemények==
 A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
@@ 13. sor: / 10. sor: @@
 * Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010]
-==ZH 2012==
+==    ZH     ==
-===1. ZH===
+===  2012   ===
+----
+==== 1. ZH ====
 * TQM
 * SPC
@@ 20. sor: / 19. sor: @@
 * AOI
-----
+==== 2. ZH ====
-===2. ZH===
 * Si egykristály hibáinak vizsgálata
 * négytűs mérés
@@ 29. sor: / 26. sor: @@
 * gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
-----
+C-V ; 4tűs vizsgálat ;  számolós példa: gépképesség
 -- [[DormanP]] - 2009.09.16.
 -- [[MolnarGabika|GAbika]]
+===  2013   ===
--es kérdések:
+----
-  C-V ; 4tűs vizsgálat ;  számolós példa: gépképesség
+==== 2. ZH ====
+[[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]]
 [[Category:Villanyszak]]