„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés

A VIK Wikiből
(Új oldal, tartalma: „{{GlobalTemplate|Villanyszak|MSCMinBiztME}} ==Vélemények== A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. ==Segédanyag…”)
 
(Poppe és Mizsei honlapja hozzáadva)
7. sor: 7. sor:
==Segédanyagok==
==Segédanyagok==


* [http://www.ett.bme.hu/i_flash2.php?lang=&maincontent=home2.php?lang= Tárgyi adatlap, és előadásanyagok]  
* [http://www.ett.bme.hu/i_flash2.php?lang=&maincontent=home2.php?lang= Tárgyi adatlap, és előadásanyagok], '''jelszó:''' minoseg
** '''jelszó: minoseg'''
* [http://www.eet.bme.hu/~mizsei/Minell/ Mizsei anyagai]
 
* [http://www.eet.bme.hu/~poppe/minel/ Poppe anyagai]


* Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010]
* Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010]

A lap 2013. május 20., 12:17-kori változata

Ez az oldal a korábbi SCH wikiről lett áthozva.

Ha úgy érzed, hogy bármilyen formázási vagy tartalmi probléma van vele, akkor, kérlek, javíts rajta egy rövid szerkesztéssel!

Ha nem tudod, hogyan indulj el, olvasd el a migrálási útmutatót.


Vélemények

A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.

Segédanyagok

  • Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:Tételek_2010

ZH 2012

1. ZH

  • TQM
  • SPC
  • két darab szórásos, konfidenciás feladat
  • AOI

2. ZH

  • Si egykristály hibáinak vizsgálata
  • négytűs mérés
  • IC hibamérés
  • mit lehet mérni C-V módszerrel
  • gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás

-- DormanP - 2009.09.16.

-- GAbika


2012-es kérdések:

 C-V ; 4tűs vizsgálat ;  számolós példa: gépképesség