„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés
A VIK Wikiből
Poppe és Mizsei honlapja hozzáadva |
új zh |
||
| 1. sor: | 1. sor: | ||
==Vélemények== | ==Vélemények== | ||
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. | A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani. | ||
| 13. sor: | 10. sor: | ||
* Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010] | * Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010] | ||
==ZH 2012== | == ZH == | ||
===1. ZH=== | === 2012 === | ||
---- | |||
==== 1. ZH ==== | |||
* TQM | * TQM | ||
* SPC | * SPC | ||
| 20. sor: | 19. sor: | ||
* AOI | * AOI | ||
==== 2. ZH ==== | |||
===2. ZH=== | |||
* Si egykristály hibáinak vizsgálata | * Si egykristály hibáinak vizsgálata | ||
* négytűs mérés | * négytűs mérés | ||
| 29. sor: | 26. sor: | ||
* gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás | * gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás | ||
- | C-V ; 4tűs vizsgálat ; számolós példa: gépképesség | ||
-- [[DormanP]] - 2009.09.16. | -- [[DormanP]] - 2009.09.16. | ||
-- [[MolnarGabika|GAbika]] | -- [[MolnarGabika|GAbika]] | ||
=== 2013 === | |||
---- | |||
==== 2. ZH ==== | |||
[[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]] | |||
[[Category:Villanyszak]] | [[Category:Villanyszak]] | ||
A lap 2013. május 20., 11:27-kori változata
Vélemények
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
Segédanyagok
- Tárgyi adatlap, és előadásanyagok, jelszó: minoseg
- Mizsei anyagai
- Poppe anyagai
- Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:Tételek_2010
ZH
2012
1. ZH
- TQM
- SPC
- két darab szórásos, konfidenciás feladat
- AOI
2. ZH
- Si egykristály hibáinak vizsgálata
- négytűs mérés
- IC hibamérés
- mit lehet mérni C-V módszerrel
- gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
C-V ; 4tűs vizsgálat ; számolós példa: gépképesség
-- DormanP - 2009.09.16.
-- GAbika
