„Minőségbiztosítás a mikroelektronikában” változatai közötti eltérés

A VIK Wikiből
(új zh)
Nincs szerkesztési összefoglaló
1. sor: 1. sor:
{{Tantárgy
| név = Minőségbiztosítás<br>a mikroelektronikában
| tárgykód = VIMIM108
| szak = villany MSc
| kredit = 4
| félév = 1
| kereszt =
| tanszék = ETT
| jelenlét =
| minmunka =
| labor =
| kiszh =
| nagyzh = 2 db
| hf =
| vizsga =
| levlista =
| tad = https://www.vik.bme.hu/kepzes/targyak/VIETM109/
| tárgyhonlap = http://www.ett.bme.hu/subshort.php?sub_id=1222351629199.7_1f44a99578f4ed4ad860a5415c7b3ef7
}}
==Vélemények==
==Vélemények==
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.
A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.


==Segédanyagok==
==Segédanyagok==
 
* [http://www.ett.bme.hu/subshort.php?sub_id=1222351629199.7_1f44a99578f4ed4ad860a5415c7b3ef7= Tárgyi adatlap, és előadásanyagok], '''jelszó:''' minoseg
* [http://www.ett.bme.hu/i_flash2.php?lang=&maincontent=home2.php?lang= Tárgyi adatlap, és előadásanyagok], '''jelszó:''' minoseg
* [http://www.eet.bme.hu/~mizsei/Minell/ Mizsei anyagai]
* [http://www.eet.bme.hu/~mizsei/Minell/ Mizsei anyagai]
* [http://www.eet.bme.hu/~poppe/minel/ Poppe anyagai]
* [http://www.eet.bme.hu/~poppe/minel/ Poppe anyagai]


* Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget, nem én csináltam:[https://wiki.sch.bme.hu/pub/Villanyszak/MSCMinBiztME/MinBizt_kidolg2010.pdf Tételek_2010]
[[Média:Mbmikro_kidolgozas_2010.pdf‎ |  Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról.]] Tartalomért nem vállalok felelősséget.


==   ZH     ==
==ZH==
=== 2012   ===
===2012. 1. zh===
----
==== 1. ZH ====
* TQM
* TQM
* SPC
* SPC
19. sor: 36. sor:
* AOI
* AOI


==== 2. ZH ====
===2012. 2. zh===
* Si egykristály hibáinak vizsgálata
* Si egykristály hibáinak vizsgálata
* négytűs mérés
* négytűs mérés
26. sor: 43. sor:
* gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás
* gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás


C-V ; 4tűs vizsgálat ; számolós példa: gépképesség  
C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség  
 
-- [[DormanP]] - 2009.09.16.
 
-- [[MolnarGabika|GAbika]]


=== 2013   ===
===2013. 2. zh===
----
==== 2. ZH ====
[[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]]
[[Média:Mbmikro_zh2_20130513.pdf | 2013.05.13.]]


[[Category:Villanyszak]]
[[Category:Villanyszak]]

A lap 2013. július 14., 13:12-kori változata

Minőségbiztosítás
a mikroelektronikában
Tárgykód
VIMIM108
Általános infók
Szak
villany MSc
Kredit
4
Ajánlott félév
1
Tanszék
ETT
Követelmények
NagyZH
2 db
Elérhetőségek

Vélemények

A többi közös tárgyhoz képest könnyű, a kötelező mellé ezt érdemes választani.

Segédanyagok

Kidolgozott tételek 2010. tavaszáról. Tartalomért nem vállalok felelősséget.

ZH

2012. 1. zh

  • TQM
  • SPC
  • két darab szórásos, konfidenciás feladat
  • AOI

2012. 2. zh

  • Si egykristály hibáinak vizsgálata
  • négytűs mérés
  • IC hibamérés
  • mit lehet mérni C-V módszerrel
  • gépképesség és minőségkapacitás (elméleti, statikus, dinamikus) számítás

C-V; 4tűs vizsgálat; számolós példa: gépképesség

2013. 2. zh

2013.05.13.